更新時間：2024-11-03
韓國微先鋒MicropioneerXRF-2000測厚儀標準片可應用各種X射線測厚儀品牌用于校正測厚儀標準及添加應用程序電鍍測厚儀標準片膜厚儀校正片
標準片可應用各種X射線測厚儀品牌
用于校正鍍層測厚儀標準曲線及添加應用程序
韓國XRF-2000測厚儀標準片：
銅/鎳/鋅/鉻/銀/金/鈀/錫/鋅鎳合金等
標準片可訂制，均附帶標準證書
電鍍測厚儀標準片膜厚儀校正片
標準片是X射線測厚儀在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。是膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。以此標準曲線來測量鍍層樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。
電鍍測厚儀標準片膜厚儀校正片銅，鎳，鉻，鋅，金，銀，錫，鋅鎳，鈀各種厚度及規(guī)格均可訂制，校準片均附帶證書
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