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    X-RAY膜厚儀韓國(guó)先鋒電鍍測(cè)厚儀

    更新時(shí)間:2025-02-12

    簡(jiǎn)要描述:

    先鋒X-RAY膜厚儀韓國(guó)XRF-2020測(cè)厚儀
    檢測(cè)電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器
    半導(dǎo)體等電鍍層厚度
    快速無(wú)損檢測(cè)電子電鍍層厚度
    X-RAY膜厚儀韓國(guó)先鋒電鍍測(cè)厚儀

    X-RAY膜厚儀韓國(guó)先鋒電鍍測(cè)厚儀

     

    通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的第二次X射線強(qiáng)度來(lái)測(cè)量鍍層等金屬鍍層的厚度。

    金屬鍍層厚度的測(cè)量方法有多種,其中X射線熒光法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量

     

    測(cè)量范圍廣,X射線法可測(cè)極薄單鍍層、雙鍍層、合金鍍層,且不受底材影響。

    各種金屬或塑膠電子零件,五金工件,端子連接器等在加工后為

    防止生銹,或者美觀,或功能 會(huì)對(duì)零件表面鍍銅鎳銀鋅錫及鋅鎳合金等電解鍍層

    但由于工藝或技術(shù)問(wèn)題,會(huì)出現(xiàn)有的地方鍍的厚一些,有的地方薄一些

    這樣就會(huì)導(dǎo)致零件鍍層厚度需要一種測(cè)厚儀,這種儀器就是鍍層測(cè)厚儀

    測(cè)量原理:

    物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后,由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài),此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來(lái),而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來(lái)。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量?jī)x或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來(lái)的熒光的能量及強(qiáng)度,來(lái)進(jìn)行定性和定量分析。

    X-RAY膜厚儀韓國(guó)先鋒電鍍測(cè)厚儀型號(hào)規(guī)格

    如下圖:

    X-RAY膜厚儀韓國(guó)先鋒電鍍測(cè)厚儀


    XRF-2020測(cè)厚儀韓國(guó)Micropioneer膜厚測(cè)量?jī)x


    產(chǎn)品功能:


    1. 采用X射線熒光光譜法無(wú)損測(cè)量金屬鍍層厚度,單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層,不限基材!

    1. 鍍層元素范圍:鈦~鈾,包含常見(jiàn)的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、金,鉻,鋅鎳合金等。

    2. 鍍層層數(shù):可測(cè)5層。

    3. 測(cè)量產(chǎn)品位置尺寸:標(biāo)準(zhǔn)配備0.2mm準(zhǔn)直器,測(cè)量產(chǎn)品大于0.4mm(可訂制更小準(zhǔn)直器)

    4. 測(cè)量時(shí)間:通常15秒。

    5. H型號(hào)機(jī)箱容納樣品尺寸:550 x 550 x 100 mm (長(zhǎng)x寬x高)。

    6  L型號(hào)機(jī)箱容納樣品尺寸:550 x 550 x 30 mm (長(zhǎng)x寬x高)。

    7. 測(cè)量誤差:通常小于5%,視樣品具體情況而定。

    8. 可測(cè)厚度范圍:通常0.01微米到60微米


    XRF-2020測(cè)厚儀X-RAY電鍍膜厚測(cè)量?jī)x

    測(cè)量方法:通過(guò)CCD鏡頭觀察樣品倉(cāng)

    快速無(wú)損測(cè)量

    電鍍層膜厚,測(cè)量電鍍層厚度:

    測(cè)量金,鎳,銀,錫,鋅,銅,鋅鎳合金等電鍍層厚度

    單鍍層,雙鍍層,多鍍層,鋅鎳合金鍍層均可以測(cè)量

    Micropioneer XRF-2020測(cè)厚儀韓國(guó)先鋒







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